理工学基盤部門,鈴木 真粧子

鈴木 真粧子

准教授

SUZUKI-SAKAMAKI masako

理工学基盤部門


研究KEYWORD

放射光軟X線、表面・界面、X線吸収分光、X線磁気円二色性、マルチフェロイクス

研究分野 (科研費細目)

物性I、薄膜および表面界面物性、応用物理物性

主要な研究内容

当研究室では「界面機能計測科学」をテーマに(1)光技術と計測技術の開発と(2)多様な機能性薄膜材料への応用展開を行います。先端的な放射光技術を活用して新しい軟X線分光手法を開拓し、精密な界面分析から機能の創成を目指します。

共同研究に応用できる技術分野 または 共同研究実績

深さ分解磁気分析、非破壊界面分析、オペランド表面・界面分析

主要な所属学会

日本物理学会、日本放射光学会、応用物理学会、日本XAFS研究会

近年の論文 または 特許 (3件以内)

  • Development of high signal-to-background ratio depth-resolved soft X-ray absorption spectroscopy by fluorescence energy selection (高S/B比蛍光選別深さ分解X線吸収分光法の開発), Jpn. J. Appl. Phys. 57, 120308-1-4 (2018).
  • Observation of electric field-induced interface redox reaction and magnetic modification in GdOx/Co thin film by means of depth-resolved x-ray absorption spectroscopy (GdOx/Co界面の電界誘起酸化還元反応および磁気変調の観察), Phys. Chem. Chem. Phys. 20, 20004-20009 (2018).
  • Nanometer-resolution depth-resolved measurement of fluorescence-yield soft x-ray absorption spectroscopy for FeCo thin film (nm深さ分解能を持つ蛍光収量型深さ分解X線吸収分光法の開発), Rev. Sci. Instrum. 88, 083901-1-4 (2017).