電子情報部門,電気電子コース,加田 渉

加田 渉

助教

KADA wataru

電子情報部門 電気電子コース

研究KEYWORD

イオンビーム応用,材料分析,微細加工,半導体欠陥エンジニアリング,PIXE, PBW

研究分野 (科研費細目)

量子ビーム科学

主要な研究内容

イオンビームやレーザーを中心とした量子ビーム科学や放射線計測技術を基礎として、重粒子線場での線量計測技術開発や量子ビーム微細加工を利用した材料への選択的機能性付与などを研究しています。主要な研究テーマは,以下の通りです。

  1. 量子ビームを利用した材料分析や微細加工技術に関する研究
  2. ダイヤモンド・SiC等のワイドギャップ半導体への欠陥エンジニアリングに関する研究
  3. 重粒子線治療場などで利用可能な放射線線量計開発に関する研究

共同研究に応用できる技術分野 または 共同研究実績

  1. 量子ビーム科学ならびにその応用分野
  2. 重粒子線他に関連する放射線計測分野
  3. ワイドバンドギャップ半導体関連分野

主要な所属学会

応用物理学会,IEEE, 日本原子力学会,放射線安全管理学会,PIXE研究協会

近年の論文 または 特許 (3件以内)

  • Three-dimensional proton beam writing of optically active coherent vacancy spins in silicon carbide, 【炭化ケイ素内部への光学活性単一スピンの形成を目的とした3次元陽子線微細加工】,Nano Letters, 17 (5), 2865–2870 (2017).
  • ダイヤモンドによる細胞培養ディッシュ内包型放射線検出器の開発, NEW DIAMOND, 33(4), 30-33, (2017).
  • 「マーキング方法、マーキング装置、およびマーキングされた物品」, 特願2017-036566.