研究KEYWORD
放射光軟X線，表面・界面，マルチフェロイクス
研究分野
物性物理学
主な研究テーマ
- 蛍光収量型深さ分解軟X線吸収分光法の開発の開発
- 磁気デバイスのオペランド界面分析
- 軟X線反射率を用いた表面イメージング法の開発
研究概要
当研究室では「界面機能の計測」をテーマに（１）軟X線計測技術の開発と（２）スピントロニクス材料や固体電池材料のオペランド界面分析を進めています。先端的な放射光技術を活用して新しい軟X線計測手法を開拓し，精密な表面・界面分析から界面機能の創成を目指します。
提供できる技術・応用分野
放射光実験，非破壊界面分析，オペランド界面分析
主要な所属学会
日本物理学会，日本放射光学会，応用物理学会，日本XAFS研究会
代表的な論文 または 特許
- Three-dimensional chemical-state imaging with reflection-mode soft x-ray absorption spectroscopy, Rev. Sci. Instrum. 92, 123702-1-5 (2021)
- Bond-length mapping without two-dimensional scanning by means of photoemission electron microscopy-extended X-ray absorption fine structure measurement, Jpn. J. Appl. Phys. 59, 105504-1-6 (2020).
- Observation of electric field-induced interface redox reaction and magnetic modification in GdOx/Co thin film by means of depth-resolved x-ray absorption spectroscopy, Phys. Chem. Chem. Phys. 20, 20004-20009 (2018).