電子情報部門,櫻井 浩,桜井 浩

櫻井 浩

教授

SAKURAI hiroshi

電子情報部門

研究KEYWORD

コンプトン散乱,X線,リチウムイオン電池,非破壊検査,磁性材料, フォトンカウンティングCT

研究分野

電気電子工学,応用物理物性,エネルギー関連化学,人間医工学,安全工学

主な研究テーマ

  • フォトンカウンティングCTを用いた検査法開発
  • コンプトン散乱イメージング法の開発
  • 巨大磁歪効果を生み出す電子状態の解明

研究概要

X線は医学,工業製品の検査,空港などの保安検査など広く利用されている。これらでは,X線強度の減衰が物質によって異なることを利用して物体の外形や内部構造を調べている。これはX線の強度情報を利用した「白黒写真」である。一方,最近になってX線の波長(エネルギー)情報を解析すれば,元素の種類や化学結合の情報が得られることがわかてきた。いわばX線のカラー写真である。本研究室では「X線のカラー写真」を解析して,元素の種類や化学結合を調べる研究をしている。

提供できる技術・応用分野

磁性薄膜作製と評価,リチウムイオン電池の電極反応分布,X線測定技術

主要な所属学会

日本物理学会,応用物理学会,磁気学会,放射光学会

近年の論文 または 特許 (3件以内)

  • Identifying the Degradation Mechanism in Commercial Lithium Rechargeable Batteries via High-Energy X-ray Compton Scattering Imaging, Appl. Sci, -Basel 10, 5855 (2020)
  • N. Tsuji, H. Sakurai, Y. Sakurai, Depth dependence of spin-specific magnetization hysteresis loops measured by magnetic Compton scattering, Appl. Phys. Lett.116, 182402 (2020)
  • X線CT装置、電子密度及び実効原子番号の測定方法、CT検査方法、検査方法, 再表2018/062308(2018/04/05)